Oled 模组批量老化设备

1.大规模模组老化测试系统是通过Keithley3706A数据采集系统采集硅光电二极管的 光电流/光电压从而得到AMOLED模组相对亮度的变化过程，可在单个模组或屏体 上增加多个硅光电二极管来实现多个位置的亮度老化监控；支持图片自定义切换， 支持RGBW等多种Pattern的老化性能测试分析；
2.该方案非常适合于大规模的模组老化测试，最大可支持250个模组同时老化测试； 同时可集成箱体温控功能，实现高温加速老化测试。